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課程簡(jiǎn)介：

日立經(jīng)典款熒光分光光度計(jì)于2019年10月推出全新附件：熒光分布成像系統(tǒng)（EEM VIEW)。它擁有行業(yè)首創(chuàng)的技術(shù)，同時(shí)分析熒光光譜和反射光譜，將樣品的光譜信息可視化，同時(shí)獲得更加細(xì)致的光譜信息。

亮點(diǎn)：

1. 在不同光源（白光和單色光）下拍攝樣品圖像

2. 獲得樣品的反射光譜和熒光光譜

3. 利用獨(dú)特的光譜處理算法，獲得樣品的熒光圖像和反射圖像

4. 獲得樣品圖像任意區(qū)域的光譜信息

課程效果：獲悉樣品分析新技術(shù)，拓展企業(yè)或高校研發(fā)人員的應(yīng)用思維。

直播時(shí)間：3月10日  15:00-16:00

培訓(xùn)費(fèi)用：免費(fèi)

聽課方式：日立微學(xué)院（提交此表單后掃碼進(jìn)群）